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从SEM观察到EDX分析都可轻松操作的SEM-EDX一体化系统。从样品表面观察到元素分析,在一个监视器上简便地操作。
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5轴马达样品驱动样品台,可使用鼠标进行简单操作,是通用级的SEM。
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Leica Z6 APO/Z6 APO A和Leica Z16 APO/Z16 APO A,最佳标准尺寸的6.3:1和16:1的变焦系统一体化,机器视觉,可用于从整个生产流程到机器视觉系统一体化的高精
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三种显微分析工具优势互补,简单易行:能谱进行快速准确定量,波谱进行更高精度的成分分析,EBSD实现微区的结构/织构分析。
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一体式设计的数码显微镜,广泛应用于临床学术研究和临床教学。
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CENTRA? 100是一款采用成熟技术的,高效率的100 kV通用型TEM。
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ORION显微镜的基础是革命性的、原子尺寸的、ALIS气体场离子源。
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EVO显微镜目前发展成为两个系列,分别针对材料分析和生命科学这两种截然不同的应用环境。
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ULTRA综合采用了用于形貌成像的GEMINI? In-len二次电子探测器、用于清晰的组分衬度的EsB探测器和用于采集晶体通道信息的AsB探测器。
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SUPRA?系列产品配备有经过改进的第三代GEMINI?镜筒、概念新颖的样品台、智能化硬件控制板和新型高效率的透镜内二次电子探测器。
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LIBRA? 120则综合了成熟的灵活性、更好的无油真空系统以及基于Windows?的用户界面,在操作简便的同时,提供最大量的信息。
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仪器介绍 卡尔.蔡司CrossBeam?系列产品包含了一整套独具特色的仪器。
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单独使用或是与自动送片机 (Wafer Loader) 配合使用,皆能展现相当高的性能与适用性。
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L300系列观察显微镜有两种型号可以选择:L300和L300D 系列产品全部采用NIKON公司广受好评的CFI60光学技术。
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JCM-5000 NeoScope经济实惠,补充和发展了光学显微镜和传统扫描电子显微镜。
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扫描电子显微镜(SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比,具有焦距更深,分辨率更好的特点。
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JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。
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JSM-6610A/ JSM-6610LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS)组合于一体。
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JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。
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JSM-6700F是一款场发射扫描电子显微镜,配备了冷场发射电子枪、超高真空系统和先进的数字化技术,以获得微观结构的高分辨率和高质量的图像。
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