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台式小型主机,配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越,使用CCD摄像头观察样品等,900型的检测器为电子制冷。
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可进行固体、粉未、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250m m绘图功能。
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采用样品水平型测角仪、WindowsNT/2000对应的软件,操作非常便利。并且,丰富的选配件支持多种多样的应用。L型则可对应最大为350mmf的大型样品。
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采用高精度垂直测角仪。windows 98/NT对应的软件,实现了多任务功能,操作简便 。性价比出色。另外,丰富的选配件满足各种应用需求。
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适用于工艺管理,可在约1分钟的时间里同时分析36种元素。采用4kw薄窗X射线管。采用封气型检测器,直至Na的检测也实现了长期稳定性,可以微量区域开始,在宽广的范围内进行出色的分析。
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对于因分辨率不足即使X射线强度足够也难以进行的电子部件、电路板以及食品中的异物等微小局部的测定,本装置可进行高灵敏度、高分辨率、分析直径最小至50mm的分析。
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重视基本性能、超紧凑设计的ESCA。测定操作简单,可自动分析多种样品,最适于质量管理分析与生产管理分析。备有用于快速深度方向分析的离子枪(选配)。
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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品,从宏观分析、微观分析、深度分析,或从元素分析到状态分析,都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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可分析30mm以下的微小区域,同时,可进行XPS成图,观测到不同结合状态的分布图,是高性能的XPS。
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采用新开发的双模式分析器,从数秒至数十秒的时间内得到数mm以下的高分辨元素图、化学状态图,是真正的成图XPS。
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可在样品微米领域进行高灵敏度的元素分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘,操作极为便利,并可通过互联网进行计算机操作。
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