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重视基本性能、超紧凑设计的ESCA。测定操作简单,可自动分析多种样品,最适于质量管理分析与生产管理分析。备有用于快速深度方向分析的离子枪(选配)。
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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品,从宏观分析、微观分析、深度分析,或从元素分析到状态分析,都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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可分析30mm以下的微小区域,同时,可进行XPS成图,观测到不同结合状态的分布图,是高性能的XPS。
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采用新开发的双模式分析器,从数秒至数十秒的时间内得到数mm以下的高分辨元素图、化学状态图,是真正的成图XPS。
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可在样品微米领域进行高灵敏度的元素分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘,操作极为便利,并可通过互联网进行计算机操作。
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JPS-9200是一款进行微区表面分析的最新式的X射线光电子能谱仪,应用范围很广。
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JPS-9010具有三种型号,JPS-9010MC(带单色X射线源)、JPS-9010MX和JPS-9010TR采用了X射线全反射光电子能谱(TRXPS)技术。
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UV-6100 紫外能谱仪用于检查各种光学仪器(设备)及光学文件波长的准确性,也可以测量其中各谱线的相对强弱。
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